Einrichtung : |
|
|||
---|---|---|---|---|
Gutachter : |
|
|||
Jahr der Abgabe: |
|
|||
Jahr der Verteidigung: |
|
Sprache(n) : |
|
|
---|---|---|
Schlagworte: |
|
|
DDC Klassifikation : |
|
URN : |
|
---|
Persistente URL: |
|
|
---|---|---|
erstellt am: |
|
|
zuletzt geändert am: |
|
Volltext |
|
---|
Sämrow, Hagen
Rostock : Universität , 2015
https://doi.org/10.18453/rosdok_id00001479
http://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00001479
Die fortschreitende Skalierung führt zur Verbesserung dynamischer Parameter einer integrierten Schaltung, aber auch zu Verschleißerscheinungen, die die Lebensdauer dieser Schaltungen allein durch den Betrieb signifikant begrenzen. Die vorliegende Arbeit stellt neue Ansätze auf Gatterebene zur Erhöhung der Zuverlässigkeit für kombinatorische integrierte Schaltungen hinsichtlich Gateoxiddefekten vor, die sich in einen standardisierten CMOS-Designablauf integrieren lassen. Des Weiteren befasst sich diese Arbeit mit der Entwicklung eines Simulators zur Analyse der Auswirkungen von Gateoxiddefekten.
Dissertation
Open Access
Einrichtung : |
|
|||
---|---|---|---|---|
Gutachter : |
|
|||
Jahr der Abgabe: |
|
|||
Jahr der Verteidigung: |
|
Sprache(n) : |
|
|
---|---|---|
Schlagworte: |
|
|
DDC Klassifikation : |
|
URN : |
|
---|
Persistente URL: |
|
|
---|---|---|
erstellt am: |
|
|
zuletzt geändert am: |
|
Volltext |
|
---|