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Gierschner,  Sidney

Analyse des Einflusses von rückwärts leitfähigen IGBTs auf die Leistungsfähigkeit und Lebensdauer von Dreipunktumrichtern

Rostock : Universität , 2017

https://doi.org/10.18453/rosdok_id00001971

http://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00001971

Abstract:

Im Rahmen dieser Arbeit wird der Einsatz eines neuartigen Leistungshalbleiters für den Mittel- und Hochspannungsbereich und die sich daraus ergebenden Vor- und Nachteile analysiert. Hierbei liegt der Fokus auf der Leistungsfähigkeit und der Lebensdauer des untersuchten Leistungshalbleiters in verschiedenen Dreipunktumrichtertopologien.

Dissertation Open Access


Einrichtung :
Fakultät für Informatik und Elektrotechnik
Gutachter :
Eckel,  Hans-Günter  (Prof. Dr.-Ing.)
Bernet,  Steffen  (Prof. Dr.-Ing.)
Hiller,  Marc  (Prof. Dr.-Ing.)
Jahr der Abgabe:
2017
Jahr der Verteidigung:
2017
Sprache(n) :
Deutsch
Schlagworte:
Lebensdaueranalyse, Mehrpunktumrichter, BIGT, Mehrpunktgleichrichter, Stromrichtungserkennung
DDC Klassifikation :
620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
URN :
urn:nbn:de:gbv:28-diss2017-0135-2
Persistente URL:
http://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00001971
erstellt am:
2017-10-26
zuletzt geändert am:
2018-06-30
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