<?xml version="1.0" encoding="UTF-8" standalone="yes"?><add><doc><field name="objectKind">mycoreobject</field><field name="id">rosdok_disshab_0000002301</field><field name="returnId">rosdok_disshab_0000002301</field><field name="objectProject">rosdok</field><field name="objectType">disshab</field><field name="link">rosdok_derivate_0000088824</field><field name="modified">2023-08-08T10:11:24.436Z</field><field name="created">2020-06-19T06:21:27.837Z</field><field name="modifiedby">administrator</field><field name="createdby">editorD</field><field name="state">published</field><field name="derCount">1</field><field name="derivates">rosdok_derivate_0000088824</field><field name="worldReadable">true</field><field name="worldReadableComplete">true</field><field name="category">derivate_types:fulltext</field><field name="allMeta">Volltext</field><field name="allMeta">fulltext</field><field name="allMeta">wf_edit_epub wf_register_epub</field><field name="category">state:published</field><field name="category.top">state:published</field><field name="allMeta">veröffentlicht</field><field name="allMeta">published</field><field name="allMeta">rosdok/id00002696</field><field name="allMeta">1701104075</field><field name="allMeta">Oau</field><field name="allMeta">2020-06-19</field><field name="allMeta">2023-08-05T19:14:48Z</field><field name="allMeta">rda</field><field name="allMeta">Converted from PICA to MODS using Pica2Mods XSLT Transformer 2.7 [SCM: "0c0e7a3c226a4a0cbcbec39b493c3c5257339ab8" "v2.7" "2023-08-04T00:00:00+0200"] with mode 'DEFAULT'.</field><field name="allMeta">Dissertation</field><field name="allMeta">Hochschulschrift</field><field name="allMeta">Einfluss des Self Turn-ON auf das Schalt- und Kurzschlussverhalten von IGBT</field><field name="allMeta">Das Ziel dieser Arbeit ist die Untersuchung des Self Turn-on als dynamische kollektorstromabhängige Wechselwirkung zwischen dem Leistungs- und dem Steuerkreis eines IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor). 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Diese tritt besonders während des Schalt- und Kurzschlussverhaltens in Erscheinung. Der Effekt führt zu einem intrinsisch gesteuerten Verschiebungsstrom zwischen dem Drift-Gebiet in den Gate-Knoten des IGBT, welcher auf einer lokalen Änderung der Ladungsträgerkonzentration im Drift-Gebiet unterhalb der Gate-Elektrode basiert.</field><field name="mods.abstract">The major topics of this thesis are investigations regarding the Self Turn-on. The dynamic feedback between the power- and the control-path of an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) depends on the collector-current and influences the switching and short-circuit behaviour. This is caused by an intrinsic controlled displacement current between the IGBT’s drift-region and its gate-junction. The physics behind this effect are based on a local change of the charge-carrier density in the drift-region below the gate-electrode.</field><field name="mods.dateIssued">2019</field><field name="mods.yearIssued">2019</field><field name="mods.note.referee">Hans-Günter Eckel (Universität Rostock) ; Mark-Matthias Bakran (Universität Bayreuth) ; Eberhard Ulrich Krafft (Siemens AG Nürnberg)</field><field name="mods.note.statement of responsibility">vorgelegt von Patrick Münster</field><field name="ir.identifier">[xslt]Saxon</field><field name="recordIdentifier">rosdok/id00002696</field><field name="purl">https://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00002696</field><field name="ppn">1701104075</field><field name="doi">10.18453/rosdok_id00002696</field><field name="urn">urn:nbn:de:gbv:28-rosdok_id00002696-8</field><field name="ir.creator.result">Patrick Münster</field><field name="ir.creator.sort">Münster Patrick</field><field name="ir.title.result">Einfluss des Self Turn-ON auf das Schalt- und Kurzschlussverhalten von IGBT</field><field name="ir.doctype.result">Dissertation</field><field name="ir.doctype_en.result">doctoral thesis</field><field name="ir.originInfo.result">Universität Rostock, 2019</field><field name="ir.abstract300.result">Das Ziel dieser Arbeit ist die Untersuchung des Self Turn-on als dynamische kollektorstromabhängige Wechselwirkung zwischen dem Leistungs- und dem Steuerkreis eines IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor). Diese tritt besonders während des Schalt- und Kurzschlussverhaltens in Erscheinung. 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