mycoreobjectrosdok_disshab_0000002767rosdok_disshab_0000002767rosdokdisshabrosdok_derivate_00001964842023-08-08T10:14:16.732Z2022-06-28T15:55:15.680ZadministratoreditorMSpublished1rosdok_derivate_0000196484truetruederivate_types:fulltextVolltextfulltextwf_edit_epub wf_register_epubstate:publishedstate:publishedveröffentlichtpublishedrosdok/id000037541808398432Oau2022-06-282023-08-05T19:20:19ZrdaConverted from PICA to MODS using Pica2Mods XSLT Transformer 2.7 [SCM: "0c0e7a3c226a4a0cbcbec39b493c3c5257339ab8" "v2.7" "2023-08-04T00:00:00+0200"] with mode 'DEFAULT'.DissertationHochschulschriftLeiterplatten unter 1000V SpannungEinfluss des Lötstopplacks auf das unter Feuchte und hohen elektrischen Spannungen auftretende anodische Migrationsphänomen in der LeiterplatteDas neuartige anodische Migrationsphänomen (AMP) kann sich unter hohen elektrischen Spannungen unter gleichzeitiger Feuchtelast hauptsächlich im Lötstopplack, aber auch im Basismaterial der Leiterplatte, zwischen gegenpolig geladenen Leiterbahnen ausbilden. Die potenziellen Folgen sind Kurzschlüsse und damit ein Ausfall der Hochspannungsleiterplatte unter bestimmten Betriebsbedingungen. Diese Arbeit beinhaltet eine detaillierte Beschreibung des Phänomens und zeigt Einflussgrößen auf, die die Ausprägung und Intensität des AMP beeinflussen, aus welchen Vermeidungsmaßnahmen abgeleitet werden.The newly found conductive anodic migration phenomenon (AMP) forms under high electric voltage and simultaneous moisture load between oppositely charged conductive tracks. It is found mainly in the solder resist but also in the base material of the printed circuit board. Potential consequences are short circuits and in consequence failure of the high voltage printed circuit board. This work contains a detailed description of this new phenomenon and presents variables that influence the characteristics and intensity of the AMP which can be used to eliminate the phenomenon.KerstinLux1989 -VerfasserInaut1261267613MathiasNowottnick1964 -AkademischeR BetreuerIndgs115095489Universität RostockThomasZerna1960 -AkademischeR BetreuerIndgs111826640Technische Universität DresdenLotharHennekenAkademischeR BetreuerIndgsRobert Bosch GmbH38329-6Universität Rostock1419 -Grad-verleihende Institutiondgg10085032-7Universität RostockFakultät für Informatik und Elektrotechnik2004 -Grad-verleihende Institutiondgghttp://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754urn:nbn:de:gbv:28-rosdok_id00003754-210.18453/rosdok_id00003754530 Physik540 Chemie621.3 Elektrotechnik, ElektronikFakultät für Informatik und Elektrotechnikalle Rechte vorbehaltenNutzungsrechte erteiltLizenz Metadaten: CC0frei zugänglich (Open Access)de2021Universität RostockRostockmonographic202220212022Universitätsbibliothek RostockRostock2022Universitätsbibliothek Rostockhttp://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754Mathias Nowottnick (Universität Rostock) ; Thomas Zerna (Technische Universität Dresden) ; Lothar Henneken (Robert Bosch GmbH)[{"affil":"Universität Rostock","name":"Nowottnick, Mathias"},{"affil":"Technische Universität Dresden","name":"Zerna, Thomas"},{"affil":"Robert Bosch GmbH","name":"Henneken, Lothar"}]vorgelegt von Kerstin LuxHochspannungLötenEinfriertemperaturUniversität RostockNowottnick, MathiasTechnische Universität DresdenZerna, ThomasRobert Bosch GmbHHenneken, Lothardoctype:epubdoctype:epubDokumenttypDocument typedoctype:epub.dissertationdoctype:epub.dissertationDissertationdoctoral thesisdiniPublType:doctoralThesis diniPublType2022:PhDThesis XMetaDissPlusThesisLevel:thesis.doctoralinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisdocumentnatureOfContent:ppn_105825778natureOfContent:ppn_105825778HochschulschriftdiniPublType2022:DoctoralThesisdiniPublType2022:DoctoralThesisDissertation oder HabilitationDoctoral thesisDRIVERdiniPublType2022:PhDThesisdiniPublType2022:PhDThesisDissertationPhD thesisKDSF (Pu34)XMetaDissPlusThesisLevel:thesis.doctoralXMetaDissPlusThesisLevel:thesis.doctoralDoktorarbeitdoctoral thesisSDNB:530SDNB:530530 Physik530 PhysicsSDNB:540SDNB:540540 Chemie540 Chemistry & allied sciencesSDNB:621.3SDNB:621.3621.3 Elektrotechnik, Elektronik621.3 Electrical Engineering, Electronicsinstitution:unirostockinstitution:unirostockUniversität RostockUniversity of RostockUniversität RostockUniversität RostockUni.Rostockhttp://d-nb.info/gnd/38329-6institution:unirostock.iefinstitution:unirostock.iefFakultät für Informatik und ElektrotechnikFaculty of Computer Science and Electrical EngineeringUniversität Rostock. Fakultät für Informatik und ElektrotechnikFakultät für Informatik<br />und ElektrotechnikUni.Rostock.Fakultaet.IEFhttp://d-nb.info/gnd/10085032-7licenseinfo:worklicenseinfo:workWerkworklicenseinfo:work.rightsreservedlicenseinfo:work.rightsreservedalle Rechte vorbehaltenall rights reserved/creativecommons/r/reserved/0.9/88x31.png[DE-28]Urheberrechtsschutz 1.0$gRights Statements$uhttp://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/licenseinfo:depositlicenseinfo:depositVeröffentlichungsgenehmigungpermission to storelicenseinfo:deposit.rightsgrantedlicenseinfo:deposit.rightsgrantedNutzungsrechte erteiltrights grantedlicenseinfo:metadatalicenseinfo:metadataLizenzen für Metadatenlicenseinfo:metadata.cc0licenseinfo:metadata.cc0Lizenz Metadaten: CC0license metadata: CC0/creativecommons/p/zero/1.0/88x31.pnghttps://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0/accesscondition:openaccessaccesscondition:openaccessfrei zugänglich (Open Access)open accesshttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2OAfreeinfo:eu-repo/semantics/openAccess[DE-28]Open Access$gControlled Vocabulary for Access Rights$uhttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2rfc5646:derfc5646:deDeutschGermangerdeuLeiterplatten unter 1000V SpannungEinfluss des Lötstopplacks auf das unter Feuchte und hohen elektrischen Spannungen auftretende anodische Migrationsphänomen in der LeiterplatteLeiterplatten unter 1000V SpannungEinfluss des Lötstopplacks auf das unter Feuchte und hohen elektrischen Spannungen auftretende anodische Migrationsphänomen in der Leiterplattegnd:1261267613gnd:115095489gnd:111826640gnd:38329-6gnd:10085032-7gnd:1261267613gnd:115095489gnd:111826640gnd:38329-6gnd:10085032-7rosdok_disshab_0000002767-d257523e55gnd:1261267613Kerstin LuxKerstin Luxrosdok_disshab_0000002767-d257523e69gnd:115095489Mathias NowottnickMathias Nowottnickrosdok_disshab_0000002767-d257523e84gnd:111826640Thomas ZernaThomas Zernarosdok_disshab_0000002767-d257523e100Lothar HennekenLothar Hennekenrosdok_disshab_0000002767-d257523e111gnd:38329-6Universität RostockUniversität Rostockrosdok_disshab_0000002767-d257523e122gnd:10085032-7Universität Rostock Fakultät für Informatik und ElektrotechnikUniversität Rostock Fakultät für Informatik und ElektrotechnikKerstin LuxMathias NowottnickThomas ZernaLothar HennekenUniversität RostockUniversität Rostock Fakultät für Informatik und ElektrotechnikKerstin LuxMathias NowottnickThomas ZernaLothar HennekenUniversität RostockUniversität Rostock Fakultät für Informatik und ElektrotechnikKerstin LuxRostockUniversität Rostockepub.dissertationhttp://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754urn:nbn:de:gbv:28-rosdok_id00003754-210.18453/rosdok_id00003754HochspannungLötenEinfriertemperaturDas neuartige anodische Migrationsphänomen (AMP) kann sich unter hohen elektrischen Spannungen unter gleichzeitiger Feuchtelast hauptsächlich im Lötstopplack, aber auch im Basismaterial der Leiterplatte, zwischen gegenpolig geladenen Leiterbahnen ausbilden. Die potenziellen Folgen sind Kurzschlüsse und damit ein Ausfall der Hochspannungsleiterplatte unter bestimmten Betriebsbedingungen. Diese Arbeit beinhaltet eine detaillierte Beschreibung des Phänomens und zeigt Einflussgrößen auf, die die Ausprägung und Intensität des AMP beeinflussen, aus welchen Vermeidungsmaßnahmen abgeleitet werden.The newly found conductive anodic migration phenomenon (AMP) forms under high electric voltage and simultaneous moisture load between oppositely charged conductive tracks. It is found mainly in the solder resist but also in the base material of the printed circuit board. Potential consequences are short circuits and in consequence failure of the high voltage printed circuit board. This work contains a detailed description of this new phenomenon and presents variables that influence the characteristics and intensity of the AMP which can be used to eliminate the phenomenon.20212021Mathias Nowottnick (Universität Rostock) ; Thomas Zerna (Technische Universität Dresden) ; Lothar Henneken (Robert Bosch GmbH)[{"affil":"Universität Rostock","name":"Nowottnick, Mathias"},{"affil":"Technische Universität Dresden","name":"Zerna, Thomas"},{"affil":"Robert Bosch GmbH","name":"Henneken, Lothar"}]vorgelegt von Kerstin Luxepub.dissertation1 Lux_Dissertation_2022.pdf 17027240 7b6b0ccaec5dd9445786b05df44961ee rosdok/id000037541808398432Oau2022-06-282023-08-05T19:20:19ZrdaConverted from PICA to MODS using Pica2Mods XSLT Transformer 2.7 [SCM: "0c0e7a3c226a4a0cbcbec39b493c3c5257339ab8" "v2.7" "2023-08-04T00:00:00+0200"] with mode 'DEFAULT'.DissertationHochschulschriftLeiterplatten unter 1000V SpannungEinfluss des Lötstopplacks auf das unter Feuchte und hohen elektrischen Spannungen auftretende anodische Migrationsphänomen in der LeiterplatteDas neuartige anodische Migrationsphänomen (AMP) kann sich unter hohen elektrischen Spannungen unter gleichzeitiger Feuchtelast hauptsächlich im Lötstopplack, aber auch im Basismaterial der Leiterplatte, zwischen gegenpolig geladenen Leiterbahnen ausbilden. Die potenziellen Folgen sind Kurzschlüsse und damit ein Ausfall der Hochspannungsleiterplatte unter bestimmten Betriebsbedingungen. Diese Arbeit beinhaltet eine detaillierte Beschreibung des Phänomens und zeigt Einflussgrößen auf, die die Ausprägung und Intensität des AMP beeinflussen, aus welchen Vermeidungsmaßnahmen abgeleitet werden.The newly found conductive anodic migration phenomenon (AMP) forms under high electric voltage and simultaneous moisture load between oppositely charged conductive tracks. It is found mainly in the solder resist but also in the base material of the printed circuit board. Potential consequences are short circuits and in consequence failure of the high voltage printed circuit board. This work contains a detailed description of this new phenomenon and presents variables that influence the characteristics and intensity of the AMP which can be used to eliminate the phenomenon.KerstinLux1989 -VerfasserInaut1261267613MathiasNowottnick1964 -AkademischeR BetreuerIndgs115095489Universität RostockThomasZerna1960 -AkademischeR BetreuerIndgs111826640Technische Universität DresdenLotharHennekenAkademischeR BetreuerIndgsRobert Bosch GmbH38329-6Universität Rostock1419 -Grad-verleihende Institutiondgg10085032-7Universität RostockFakultät für Informatik und Elektrotechnik2004 -Grad-verleihende Institutiondgghttp://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754urn:nbn:de:gbv:28-rosdok_id00003754-210.18453/rosdok_id00003754530 Physik540 Chemie621.3 Elektrotechnik, ElektronikFakultät für Informatik und Elektrotechnikalle Rechte vorbehaltenNutzungsrechte erteiltLizenz Metadaten: CC0frei zugänglich (Open Access)de2021Universität RostockRostockmonographic202220212022Universitätsbibliothek RostockRostock2022Universitätsbibliothek Rostockhttp://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754Mathias Nowottnick (Universität Rostock) ; Thomas Zerna (Technische Universität Dresden) ; Lothar Henneken (Robert Bosch GmbH)[{"affil":"Universität Rostock","name":"Nowottnick, Mathias"},{"affil":"Technische Universität Dresden","name":"Zerna, Thomas"},{"affil":"Robert Bosch GmbH","name":"Henneken, Lothar"}]vorgelegt von Kerstin LuxHochspannungLötenEinfriertemperatur Universität Rostock Nowottnick, Mathias Technische Universität Dresden Zerna, Thomas Robert Bosch GmbH Henneken, Lothar 2022-06-28T15:55:15.680Z 2023-08-08T10:14:16.732Z 2023-08-18T10:14:16.737Z {"identifier":"rosdok/id00003754","type":"local_id","additional":"","service":"MCRLocalID","created":"2022-06-28T15:55:15.706Z","registered":"2022-06-28T15:55:15.706Z"} editorMS {"identifier":"urn:nbn:de:gbv:28-rosdok_id00003754-2","type":"dnbUrn","additional":"","service":"RosDokURN","created":"2022-06-28T15:55:15.715Z","registered":"2022-06-28T18:43:29.247Z"} administratorfulltextfile/rosdok_disshab_0000002767/rosdok_derivate_0000196484/Lux_Dissertation_2022.pdfLeiterplatten unter 1000V SpannungEinfluss des Lötstopplacks auf das unter Feuchte und hohen elektrischen Spannungen auftretende anodische Migrationsphänomen in der LeiterplatteLeiterplatten unter 1000V SpannungEinfluss des Lötstopplacks auf das unter Feuchte und hohen elektrischen Spannungen auftretende anodische Migrationsphänomen in der Leiterplattegnd:1261267613gnd:115095489gnd:111826640gnd:38329-6gnd:10085032-7gnd:1261267613gnd:115095489gnd:111826640gnd:38329-6gnd:10085032-7rosdok_disshab_0000002767-d257523e55gnd:1261267613Kerstin LuxKerstin Luxrosdok_disshab_0000002767-d257523e69gnd:115095489Mathias NowottnickMathias Nowottnickrosdok_disshab_0000002767-d257523e84gnd:111826640Thomas ZernaThomas Zernarosdok_disshab_0000002767-d257523e100Lothar HennekenLothar Hennekenrosdok_disshab_0000002767-d257523e111gnd:38329-6Universität RostockUniversität Rostockrosdok_disshab_0000002767-d257523e122gnd:10085032-7Universität Rostock Fakultät für Informatik und ElektrotechnikUniversität Rostock Fakultät für Informatik und ElektrotechnikKerstin LuxMathias NowottnickThomas ZernaLothar HennekenUniversität RostockUniversität Rostock Fakultät für Informatik und ElektrotechnikKerstin LuxMathias NowottnickThomas ZernaLothar HennekenUniversität RostockUniversität Rostock Fakultät für Informatik und ElektrotechnikKerstin LuxRostockUniversität Rostockepub.dissertationhttp://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754urn:nbn:de:gbv:28-rosdok_id00003754-210.18453/rosdok_id00003754HochspannungLötenEinfriertemperaturDas neuartige anodische Migrationsphänomen (AMP) kann sich unter hohen elektrischen Spannungen unter gleichzeitiger Feuchtelast hauptsächlich im Lötstopplack, aber auch im Basismaterial der Leiterplatte, zwischen gegenpolig geladenen Leiterbahnen ausbilden. Die potenziellen Folgen sind Kurzschlüsse und damit ein Ausfall der Hochspannungsleiterplatte unter bestimmten Betriebsbedingungen. Diese Arbeit beinhaltet eine detaillierte Beschreibung des Phänomens und zeigt Einflussgrößen auf, die die Ausprägung und Intensität des AMP beeinflussen, aus welchen Vermeidungsmaßnahmen abgeleitet werden.The newly found conductive anodic migration phenomenon (AMP) forms under high electric voltage and simultaneous moisture load between oppositely charged conductive tracks. It is found mainly in the solder resist but also in the base material of the printed circuit board. Potential consequences are short circuits and in consequence failure of the high voltage printed circuit board. This work contains a detailed description of this new phenomenon and presents variables that influence the characteristics and intensity of the AMP which can be used to eliminate the phenomenon.20212021Mathias Nowottnick (Universität Rostock) ; Thomas Zerna (Technische Universität Dresden) ; Lothar Henneken (Robert Bosch GmbH)[{"affil":"Universität Rostock","name":"Nowottnick, Mathias"},{"affil":"Technische Universität Dresden","name":"Zerna, Thomas"},{"affil":"Robert Bosch GmbH","name":"Henneken, Lothar"}]vorgelegt von Kerstin Lux[xslt]Saxonrosdok/id00003754https://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754180839843210.18453/rosdok_id00003754urn:nbn:de:gbv:28-rosdok_id00003754-2Kerstin LuxLux KerstinLeiterplatten unter 1000V Spannung : Einfluss des Lötstopplacks auf das unter Feuchte und hohen elektrischen Spannungen auftretende anodische Migrationsphänomen in der LeiterplatteDissertationdoctoral thesisUniversität Rostock, 2021Das neuartige anodische Migrationsphänomen (AMP) kann sich unter hohen elektrischen Spannungen unter gleichzeitiger Feuchtelast hauptsächlich im Lötstopplack, aber auch im Basismaterial der Leiterplatte, zwischen gegenpolig geladenen Leiterbahnen ausbilden. Die potenziellen Folgen sind Kurzschlüsse…Kerstin LuxLeiterplatten unter 1000V SpannungEinfluss des Lötstopplacks auf das unter Feuchte und hohen elektrischen Spannungen auftretende anodische Migrationsphänomen in der LeiterplatteUniversitätsbibliothek Rostockhttp://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754KerstinLux1989 -VerfasserInaut1261267613MathiasNowottnick1964 -AkademischeR BetreuerIndgs115095489Universität RostockThomasZerna1960 -AkademischeR BetreuerIndgs111826640Technische Universität DresdenLotharHennekenAkademischeR BetreuerIndgsRobert Bosch GmbH38329-6Universität Rostock1419 -Grad-verleihende Institutiondgg10085032-7Universität RostockFakultät für Informatik und Elektrotechnik2004 -Grad-verleihende Institutiondgg[purl]http://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754[urn]urn:nbn:de:gbv:28-rosdok_id00003754-2[doi]10.18453/rosdok_id00003754open_access20212021epoch:21th_centuryrfc5646:dedoctype:epub.dissertationaccesscondition:openaccessSDNB:530SDNB:540SDNB:621.3institution:unirostock.iefstate:published