10.18453/rosdok_id00003754 Lux, Kerstin Kerstin Lux http://d-nb.info/gnd/1261267613 Universität Rostock 2021 530 Physics 540 Chemistry & allied sciences 621.3 Electrical Engineering, Electronics 2021 de http://purl.uni-rostock.de/rosdok/id00003754 urn:nbn:de:gbv:28-rosdok_id00003754-2 Das neuartige anodische Migrationsphänomen (AMP) kann sich unter hohen elektrischen Spannungen unter gleichzeitiger Feuchtelast hauptsächlich im Lötstopplack, aber auch im Basismaterial der Leiterplatte, zwischen gegenpolig geladenen Leiterbahnen ausbilden. Die potenziellen Folgen sind Kurzschlüsse und damit ein Ausfall der Hochspannungsleiterplatte unter bestimmten Betriebsbedingungen. Diese Arbeit beinhaltet eine detaillierte Beschreibung des Phänomens und zeigt Einflussgrößen auf, die die Ausprägung und Intensität des AMP beeinflussen, aus welchen Vermeidungsmaßnahmen abgeleitet werden.