Titel: |
Beitrag zur Analyse des elektrischen Verhaltens von hoch-sperrenden rückwärts leitfähigen
Insulated Gate Bipolar Transistoren |
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Beteiligte Personen: |
Daniel Wigger[VerfasserIn] |
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1079691545 |
Hans-Günter Eckel
, Prof. Dr.-Ing.[AkademischeR BetreuerIn] |
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Universität Rostock, Institut für Elektrische Energietechnik |
Josef Lutz
, Prof. Dr.-Ing.[AkademischeR BetreuerIn] |
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TU Chemnitz, Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik |
Eberhard Ulrich Krafft
, Dr.-Ing.[AkademischeR BetreuerIn] |
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Siemens AG |
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Beteiligte Körperschaften: |
Universität Rostock, Fakultät für Informatik und Elektrotechnik[Grad-verleihende Institution] |
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10085032-7 |
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Zusammenfassung: |
Rückwärts leitfähige IGBTs bilden einen neuen Typ von Leistungshalbleitern, welche
die Funktionalität von IGBT und antiparallelen Dioden in einem Chip integrieren. Zur
Prävention eines Snapbacks der Durchlassspannung besteht der Bi-mode Insulated Gate
Bipolar Transistor aus einer Parallelschaltung eines konventionellen IGBTs und eines
RC-IGBTs. Der Chipaufbau von rückwärts leitfähigen IGBT führt zu deutlichen Änderungen
des elektrischen Verhaltens im Vergleich zu konventinellen IGBTs.
[Deutsch] |
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Dokumenttyp: |
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Einrichtung: |
Fakultät für Informatik und Elektrotechnik |
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Sprache: |
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Sachgruppe der DNB: |
620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
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Veröffentlichung / Entstehung: |
Rostock
Rostock: Universität Rostock
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2015
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Identifikatoren: |
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Zugang: |
frei zugänglich (Open Access)
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Lizenz/Rechtehinweis: |
alle Rechte vorbehalten Das Werk darf ausschließlich nach den vom deutschen Urheberrechtsgesetz festgelegten Bedingungen genutzt werden. |
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RosDok-ID: |
rosdok_disshab_0000001430 |
erstellt / geändert am: |
16.09.2015 / 08.08.2023
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Metadaten-Lizenz: |
Die Metadaten zu diesem Dokument sind gemeinfrei (CC0 1.0 Universal Public Domain Dedication). |