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| Analyse des Einflusses von rückwärts leitfähigen IGBTs auf die Leistungsfähigkeit
und Lebensdauer von Dreipunktumrichtern |
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| contributing persons: |
| Sidney Gierschner[VerfasserIn] |
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1142550044 |
| Hans-Günter Eckel
, Prof. Dr.-Ing.[AkademischeR BetreuerIn] |
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115363866 |
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Universität Rostock, Institut für Elektrische Energietechnik |
| Steffen Bernet
, Prof. Dr.-Ing.[AkademischeR BetreuerIn] |
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172886759 |
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Technische Universität Dresden, Elektrotechnisches Institut |
| Marc Hiller
, Prof. Dr.-Ing.[AkademischeR BetreuerIn] |
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136858481 |
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Karlsruher Institut für Technologie, Elektrotechnisches Institut |
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| contributing corporate bodies: |
| Universität Rostock, Fakultät für Informatik und Elektrotechnik[Grad-verleihende Institution] |
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10085032-7 |
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| abstract: |
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Im Rahmen dieser Arbeit wird der Einsatz eines neuartigen Leistungshalbleiters für
den Mittel- und Hochspannungsbereich und die sich daraus ergebenden Vor- und Nachteile
analysiert. Hierbei liegt der Fokus auf der Leistungsfähigkeit und der Lebensdauer
des untersuchten Leistungshalbleiters in verschiedenen Dreipunktumrichtertopologien.
[German] |
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| document type: |
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| institution: |
| Faculty of Computer Science and Electrical Engineering |
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| language: |
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| subject class (DDC): |
| 620 Engineering & allied operations |
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publication /
production: |
|
Rostock: Universität Rostock
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2017
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| identifiers: |
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| access condition: |
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| license/rights statement: |
all rights reserved
This work may only be used under the terms of the German Copyright Law (Urheberrechtsgesetz). |
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| RosDok id: |
rosdok_disshab_0000001793 |
| created / modified: |
26.10.2017 / 08.08.2023
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| metadata license: |
The metadata of this document was dedicated to the public domain
(CC0 1.0 Universal Public Domain Dedication). |
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