Titel: |
Ein Beitrag zur Analyse des Schaltverhaltens unipolarer SiC-Transistoren |
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Beteiligte Personen: |
Tobias Gerhard Appel[VerfasserIn] |
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1060821052 |
Hans-Günter Eckel
, Prof. Dr.-Ing[AkademischeR BetreuerIn] |
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Universität Rostock, Fakultät für Informatik und Elektrotechnik |
Nando Kaminski
, Prof. Dr.-Ing[AkademischeR BetreuerIn] |
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Bremen, IALB |
Ralf Siemieniec
, Dr.-Ing[AkademischeR BetreuerIn] |
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Infineon Technologies Austria AG |
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Beteiligte Körperschaften: |
Universität Rostock, Fakultät für Informatik und Elektrotechnik[Grad-verleihende Institution] |
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10085032-7 |
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Zusammenfassung: |
Das Reverse Recovery der Body-Diode eines unipolaren Transistors beim Schalten induktiver
Lasten zeigt eine typische Ladung. Sie kann durch Analyse verschiedener Experimente
mit dem Halbleiter in drei Arten unterteilt werden. SiC-Halbleiter weisen im Vergleich
zu Si-Halbleitern eine um eine Größenordnung höhere Sperrschichtkapazität auf, da
die Feldstärken im Halbleiter in gleichem Maße größer sind. Hierdurch wird beim Reverse
Recovery eine bemerkenswerte Menge an Ladung messbar.
Anhand von Messungen und Vergleichen ist dies deutlich zu erkennen. Dies wirkt sich
auf das Schaltverhalten.
[Deutsch] |
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Dokumenttyp: |
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Einrichtung: |
Fakultät für Informatik und Elektrotechnik |
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Sprache: |
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Sachgruppe der DNB: |
620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
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Veröffentlichung / Entstehung: |
Rostock
Rostock: Universität Rostock
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2014
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Identifikatoren: |
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Zugang: |
frei zugänglich (Open Access)
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Lizenz/Rechtehinweis: |
alle Rechte vorbehalten Das Werk darf ausschließlich nach den vom deutschen Urheberrechtsgesetz festgelegten Bedingungen genutzt werden. |
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RosDok-ID: |
rosdok_disshab_0000001254 |
erstellt / geändert am: |
11.11.2014 / 08.08.2023
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Metadaten-Lizenz: |
Die Metadaten zu diesem Dokument sind gemeinfrei (CC0 1.0 Universal Public Domain Dedication). |